Karakterizasyon

Karakterizasyon


  • XRD Ölçüm Sistemi
  • PL Haritalama Sistemi
  • ECV
  • Sheet Rezistance
  • Hall Etkisi Ölçüm Sistemi (HEMS)
  • Elipsometre
  • SEM
  • Spektrofotometre
  • Probe-station
  • Profilmetre
  • Optik Mikroskop
  • LIV Ölçümü

  • Işıktepe Osb Mah. Lacivert Cad. No:8,
    No:4 Nilüfer / Bursa / Türkiye

  • +90 224 294 75 30

© Copyright 2025 EON PHOTONICS - by ERMAKSAN